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产品型号：HP655
更新时间：2026-04-07
厂商性质：生产厂家
访问量：41
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下陷法果冻强度测定仪 凹陷法果冻强度测定仪主要使用于测定各种果冻的强度,该试验采用凹陷法,SAG法果冻强度测定仪,果胶胶凝度测定仪.
凹陷法果冻强度测定仪执行标准:
满足QB2484-2000,GBN246等标准规定
下陷法果冻强度测定仪测试原理:
制备好的试样,放置在平台上,位移传感器对准接触试样平台,自动计时,显示果冻位移变化;2分钟后停止测试,显示凹陷值以及凝胶度值.
主要技术特点：
1、大触摸彩色屏显示器,菜单式操作，简单中英文随意切换；
2、采用高精度位移传感器，精度0.001mm,实时显示位移,凹陷值.数据通讯到
3、专业测控软件，测试精度高，可测试范围广，操作简单。
4、标配微型打印机，可随时打印结果，可以统计多次试验结果.
5、时控装置自动计时,可以任意设置时间.
6、试验过程结束,自动计算给出胶凝度值结果,过程省时省力，减少了主观因素的干扰，有效提高测试的可靠性。
主要技术参数
凹陷测量范围： 0～30mm；(可以选择其他凹陷范围)
凹陷位移分辨率: 0.001㎜
计时装置:触屏内置计时,可以任意设置.
位移支架:可自动升降,便于位移测头对准试样平面.
玻璃杯高度: 7.85cm
下平板直径 ：100 mm
测试空间：垂直方向150mm，
外形尺寸 ：430×350×710mm
质量： 45kg
电源 ：220V, 50Hz.
配置、
标配：主机、位移传感器、微型打印机、说明书、合格证、保修卡、电源线.
